A сканиращ електронен микроскоп(SEM) е вид електронен микроскоп, използван за сканиране на микробни повърхности, който използва нискоенергиен движещ се електронен лъч за фокусиране и сканиране на пробата.
Развитието на електронната микроскопия се дължи на неефективността на дължините на вълните на оптичната микроскопия. В сравнение със светлинните микроскопи, електронните микроскопи имат къси вертикални дължини на вълната и следователно постигат по-добра разделителна способност.
Принципи на сканиращата електронна микроскопия
За разлика от трансмисионната електронна микроскопия, която използва предавани електрони, сканиращата електронна микроскопия използва излъчвани електрони.
Сканиращата електронна микроскопия работи чрез прилагане на кинетична енергия за генериране на сигнали за електронни взаимодействия. Тези електрони са вторични електрони, обратно разсеяни електрони и дифрагирани обратно разсеяни електрони, които се използват за наблюдение на кристални елементи и фотони. Вторичните електрони и обратно разпръснатите електрони се използват за създаване на изображението. Вторичните електрони, излъчени от пробата, играят основна роля в откриването на морфологията и топографията на пробата, докато обратно разпръснатите електрони показват контраст в елементния състав на пробата.
